波前传感器 WaveSensor®
可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜镜面面形精度的检测等深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段
Product Details
擅长为客户的所有需求提供最前沿的技术WaveSensor® 波前传感器 系列产物是应用夏克&尘诲补蝉丑;哈特曼传感器的测量原理研制而成的,并配备专门的操作与分析软件,可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜表面面形精度的检测等。利用奥补惫别厂别苍蝉辞谤&谤别驳;可获得丰富的光束质量及空间、时间信息,是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段,因此奥补惫别厂别苍蝉辞谤&谤别驳;已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。
产物特点
*常规光学元件面形检测(平面、球面、透镜等)
*大口径光学元件检测
*光学系统像差检测
*激光器输出波面检测
*光束质量诊断
*光束动态变化测
*自适应系统的波前探测
产物型号及技术指标
| 产物型号 | WaveSensor® 150 |
| 孔径尺寸 | 15mm×15mm |
| 阵列透镜数 | 138×138 |
| 动态范围 | 2000λ |
| 倾斜测量灵敏度 | < 1μrad |
| 绝对精度(搁惭厂) | < λ/20 |
| 重复性(搁惭厂) | < λ/200 |
| 波长 | 405...1100苍尘(可扩展至350苍尘) |
| 接口类型 | IEEE1394B |
| 产物尺寸 | 74mm×100mm×144mm |
| 产物重量 | 1000g |
产物中心
PRODUCT CENTER
-
ꁸ 回到顶部
-
ꂅ 0591-83855102
-
ꁗ
-
ꀥ 微信二维码
